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由于電鏡產(chǎn)生的電子束穿透能力很弱，必須把標(biāo)本切成厚度小于0.1um以下的薄片才能適用，這種薄片稱為超薄切片。常用的超薄切片厚度是50-70nm。在透射電鏡的樣品制備方法中，超薄切片技術(shù)是最基本、最常的制備技術(shù)。超薄切片的制作過程基本上和石蠟...

新增功能！Aivia11AI加速分析深度學(xué)習(xí)分割目標(biāo)多孔板實(shí)驗(yàn)工作流集成Cellpose的AI功能，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)健且可重復(fù)的物體檢測在Aivia中探索和分析整個(gè)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)，并導(dǎo)出到CytoMAP進(jìn)一步分析結(jié)果結(jié)合Aivia的AI工具和訣竅，定制您...

選擇適合您清潔度分析需求的理想解決方案作者JamesDeRose博士DavidBarbero博士KayScheffler博士正確的清潔度分析解決方案對質(zhì)量控制至關(guān)重要。本文介紹了選擇適合自身需求的解決方案時(shí)應(yīng)考慮的一些重要因素。這些因素取決...

光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析已成為常規(guī)研究技術(shù)之一，其優(yōu)勢首先在于光學(xué)檢測的無損性，對樣品的分析提供安全保障；其次是大距離景深，可以更清晰的觀測微區(qū)形貌；第三是微區(qū)形貌的3D建模和測量功能，可對微區(qū)物理結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行量化表征。本次課程通過介紹不同類型...

本報(bào)告介紹了使用光學(xué)顯微鏡對零部件的清潔度進(jìn)行顆粒計(jì)數(shù)和分析的方法。顆粒計(jì)數(shù)和分析對汽車和電子行業(yè)的質(zhì)量保證非常重要。顆粒污染可能會(huì)導(dǎo)致零部件退化或失效。清潔度分析能快速確定顆粒的大小、類型以及造成損壞的概率。對于更高級的分析（如確定顆粒成...

徠卡顯微鏡是利用凸透鏡的放大成像原理，將人眼不能分辨的微小物體放大到人眼能分辨的尺寸，其主要是增大近處微小物體對眼睛的張角（視角大的物體在視網(wǎng)膜上成像大），用角放大率M表示它們的放大本領(lǐng)。因同一件物體對眼睛的張角與物體離眼睛的距離有關(guān)，所以...